P05SCT4018KR-EVK-001

本用户指南介绍了如何使用评估板来评估第四代碳化硅（SiC）MOSFET。SiC MOSFET可处理高电压和高电流，需要在各种条件下进行评估，以确定优化电磁兼容性（EMC）噪声和电源效率的工作条件。为解决创建合适评估环境的难题，提供了一款评估板，可轻松设置各种条件来评估开关特性，从而高效评估SiC MOSFET。本用户指南阐述了如何操作TO - 247N封装和TO - 247 - 4L封装的评估板。有关产品规格的详细信息，请参考《第四代SiC MOSFET评估板产品规格》。此评估板没有为评估设备提供短路保护功能。因此，即使采用正常评估方法，如果使用情况偏离客户所选评估设备的电气规格（如最大电流等），设备可能会发出爆裂声并受到严重损坏。所以，切勿以偏离评估设备规格的方式使用评估板。此外，要采取预防措施防止碎片飞溅，并使用防护设备。由于该板有多个由外部提供的电压和信号源，务必遵循以下指定的开关顺序，以避免出现损坏等问题。此外，该板默认设计了针对“SCT4018KE”或“SCT4018KR”的最佳栅极驱动电路，当然，“TO - 247N”或“TO - 247 - 4L”封装的其他器件也可安装并进行评估。在这种情况下，需参考“4. 如何设置栅极驱动电压”和“5. 如何设置栅极电阻”，根据每个器件的特性更改栅极驱动电路常数。