SPC584C70E5QMC1X
SPC584C70E5QMC1X
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- 品牌名称
- ST(意法半导体)
- 商品型号
- SPC584C70E5QMC1X
- 商品编号
- C7318079
- 商品封装
- TQFP-144(20x20)
- 包装方式
- 袋装
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 单片机(MCU/MPU/SOC) | |
| CPU内核 | 飞思卡尔系列 | |
| CPU最大主频 | 180MHz | |
| CPU位数 | 32 Bit | |
| 程序存储容量 | 2MB | |
| 程序存储器类型 | FLASH |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| RAM容量 | 448KB | |
| EEPROM容量 | 128KB | |
| ADC(位数) | 12bit | |
| 振荡器类型 | 内置+外置 | |
| 工作电压 | 3V~5.5V | |
| 工作温度 | -40℃~+125℃ |
商品概述
SPC584CX 和 SPC58ECX 微控制器是新一代设备中的首款产品,取代了 SPC564CX 和 SPC56ECX 系列。SPC584CX 和 SPC58ECX 在继承 SPC564CX 和 SPC56ECX 系列的基础上,引入了新的特性并提高了吞吐量,从而显著降低了每项功能的成本,并大幅提升了性能(每毫瓦的 MIPS)。在 SPC584CX 和 SPC58ECX 设备上,有两个 e200z420 处理器核心和一个嵌入硬件安全模块的 e200z0 核心。
SPC584CX 和 SPC58ECX 的片上模块包括以下特性:
- 两个主 CPU,双发射 32 位 CPU 核心复合体 (e200z420)。
- 符合 Power Architecture 嵌入式规范。
- 指令集增强,支持可变长度编码 (VLE),混合使用 16 位和 32 位指令,以减少代码大小。
- 单精度浮点运算。
- 64 KB 本地数据 RAM 用于 Core_0 和 Core_2。
- 8 KB I-Cache 和 4 KB D-Cache 用于 Core_0 和 Core_2。
- 4224 KB (4096 KB 代码闪存 + 128 KB 数据闪存) 片上闪存。
- 支持编程和擦除操作期间读取,并且支持多个块,允许 EEPROM 仿真。
- 176 KB 专用于 HSM 的闪存 (144 KB 代码 + 32 KB 数据)。
- 384 KB 片上通用 SRAM (+128 KB 本地数据 RAM:每个 CPU 包含 64 KB)。
- 多通道直接内存访问控制器——64 个 eDMA 通道。
- 一个中断控制器 (INTC)。
- 双相锁环,为外设提供稳定的时钟域,为计算壳提供 FM 调制域。
- 交叉开关架构,允许多个总线主控并发访问外设、闪存或 RAM,并具有端到端 ECC。
- 具有硬件加密协处理器的硬件安全模块 (HSM)。
- 系统集成单元精简版 (SIUL)。
- 启动辅助闪存 (BAF) 支持通过异步 CAN 或 LIN/UART 进行工厂编程。
- 硬件支持与 ASIL-B 级相关应用的安全性。
- 增强型模块化 IO 子系统 (eMIOS):最多 64 (2 X 32) 个带 16 位计数器分辨率的定时 I/O 通道。
- 缓冲更新。
- 支持移位 PWM 输出,以最小化同时边沿的发生。
- 支持 ADC 转换的可配置触发输出,以同步到通道输出波形。
- 共享或独立的时间基准。
- 支持 DMA 传输。
- 体交叉触发单元 (BCTU) 从任何 eMIOS 通道以及最多 2 个专用 PIT_RTIs 触发 ADC 转换。
- 每个定时器事件都有一个专用的事件配置寄存器,可以定义相应的 ADC 通道。
- 与 ADC 同步以避免冲突。
- 增强型模数转换器系统,带有三个独立的快速 12 位 SAR 模拟转换器、一个 12 位 SAR 监督模拟转换器和一个支持 STDBY 模式的 10 位 SAR 模拟转换器。
- 八个解串行串行外设接口 (DSPI) 模块。
- 十八个 LIN 和 UART 通信接口 (LINFleXD) 模块。
- 八个模块化控制器区域网络 (MCAN) 模块,均支持灵活数据速率 (符合 ISO CAN-FD)。
- 双通道 FleXRay 控制器。
- 一个 10/100 Mbps 以太网控制器,符合 IEEE 802.3-2008、IEEE 1588-2008 时间戳 (内部 64 位时间戳)、IEEE 802.1AS 和 IEEE 802.1Qav (AVB-Feature)、IEEE 802.1Q VLAN 标签检测、IPv4 和 IPv6 校验和模块。
- 符合 IEEE-ISTO 5001-2003 标准的 NeXus 开发接口 (NDI),并部分支持 2010 标准。
- 符合联合测试行动组 (JTAG) (IEEE 1149.1 和 IEEE 1149.7) 的设备和板级测试支持,2 针 JTAG 接口。
- 带智能唤醒序列的待机电源域。
优惠活动
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