MT29F2G08ABAEAWP-AATX:E TR
汽车用NAND闪存,支持内部数据移动操作,符合ONFI 1.0标准,采用单级单元技术
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- 品牌名称
- micron(镁光)
- 商品型号
- MT29F2G08ABAEAWP-AATX:E TR
- 商品编号
- C7307842
- 商品封装
- TFSOP-48-18.4mm
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 12.666667克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NAND FLASH | |
| 存储容量 | 2Gbit | |
| 接口类型 | Parallel | |
| 时钟频率(fc) | - | |
| 工作电压 | 2.7V~3.6V | |
| 写周期时间(Tw) | - | |
| 页写入时间(Tpp) | - |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 块擦除时间(tBE) | - | |
| 数据保留 - TDR(年) | - | |
| 工作温度 | -40℃~+105℃ | |
| 待机电流 | 100uA | |
| 擦写寿命 | 10万次 | |
| 功能特性 | 硬件复位功能;硬件写保护功能;读缓存功能;OTP区域写保护与锁定功能;ECC纠错功能;复制回写功能 |
商品特性
- 符合开放NAND闪存接口1.0标准
- 采用单层单元技术
- 组织结构:x8位宽页大小为2112字节(2048字节+64字节);x16位宽页大小为1056字(1024字+32字);块大小为64页(128K字节+4K字节);每个平面大小为2个平面×每平面1024个块;器件总容量为2Gb:共2048个块
- 异步I/O性能:读取/写入周期时间(tRC/tWC)为20纳秒(3.3V)和25纳秒(1.8V)
- 阵列性能:读取页时间为25微秒;编程页时间为200微秒(典型值,1.8V,3.3V);擦除块时间为700微秒(典型值)
- 命令集:符合开放NAND闪存接口NAND闪存协议
- 高级命令集:支持页缓存编程模式、页缓存读取模式、一次性可编程模式、双平面命令、交错晶片操作、读取标识符、块锁定(仅1.8V)、内部数据搬移
- 操作状态字节提供检测操作完成与通过/失败条件的软件方法
- 就绪/忙信号提供检测操作完成的硬件方法
- 写保护信号用于保护整个器件
- 出厂时第一块(块地址00h)带有纠错码,为有效块。关于最小所需纠错码,请参阅错误管理章节
- 如果编程/擦除周期少于1000次,块0需要1位纠错码
- 上电后需要将复位命令作为第一条命令
- 支持上电后设备初始化的替代方法
- 支持在读取数据所在平面内进行内部数据搬移操作
- 质量与可靠性:数据保持时间为10年;耐久性为100,000次编程/擦除周期
- 工作电压范围:VCC为2.7~3.6V;VCC为1.7~1.95V
- 工作温度范围:汽车工业级为-40℃~+85℃;汽车级为-40℃~+105℃
- 封装:48引脚薄型小外形封装类型1,中心分型线;63焊球超薄细间距球栅阵列
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