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S29GL01GS12DAE023引脚图
  • 引脚图
  • 焊盘图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

S29GL01GS12DAE023

S29GL01GS12DAE023

商品型号
S29GL01GS12DAE023
商品编号
C7070394
商品封装
FBGA-64(9x9)​
包装方式
编带
商品毛重
1克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NOR FLASH
存储容量1Gbit
工作电压2.7V~3.6V
属性参数值
页写入时间(Tpp)60ns
工作温度-55℃~+125℃
功能特性硬件写保护;绝对写保护;写使能锁存;ECC纠错;软件写保护;上电复位

商品概述

该系列产品采用65纳米MIRRORBIT™闪存工艺技术制造。这些器件提供最快15纳秒的页访问时间,相应的随机访问时间为100纳秒。它们具有写缓冲区功能,允许单次操作最多编程256字/512字节,从而实现比标准编程算法更快的有效编程时间。这使得这些器件非常适用于当今需要更高密度、更好性能和更低功耗的嵌入式应用。

商品特性

  • 采用CMOS 3.0V核心,具有多功能I/O接口
  • 基于65纳米MIRRORBIT™技术
  • 用于读/编程/擦除操作的单电源(VCC),电压范围为2.7V至3.6V
  • 宽I/O电压范围(VIO):1.65V至VCC
  • 16位数据总线
  • 异步32字节页读取
  • 512字节编程缓冲区
  • 支持以页为倍数进行编程,最多可达512字节
  • 提供单字编程和同一字多编程选项
  • 自动检错与纠错(ECC)——内置硬件ECC,支持单比特错误纠正
  • 扇区擦除,具有统一的128KB扇区
  • 提供用于编程和擦除操作的中止与恢复命令
  • 通过状态寄存器、数据轮询和就绪/忙引脚方法确定器件状态
  • 提供高级扇区保护功能
  • 为每个扇区提供易失性和非易失性保护方法
  • 独立的1024字节一次性编程阵列,包含两个可锁定区域
  • 包含通用闪存接口参数表
  • 工作温度范围:-55℃至+125℃;-55℃至+105℃
  • 支持100次编程和擦除周期
  • 数据保存期为20年
  • 封装选项:56引脚TSOP;64球LAA增强型BGA,尺寸为13毫米×11毫米×1.4毫米;64球LAE增强型BGA,尺寸为9毫米×9毫米×1.4毫米

数据手册PDF