R3130N29EC3-TR-FE

R3130N/R3131N系列是基于CMOS的低压检测器IC，内置延迟电路，具有高检测器阈值精度和超低电源电流，可在低电压下工作。 这些IC可用作系统复位发生器，每个IC由一个电压基准、一个比较器、用于设置电压检测器阈值的电阻、一个输出驱动晶体管和一个输出延迟发生器组成。 检测器阈值在内部高精度固定，无需调整。当电源电压从高值降至低于设定的检测器阈值电压时，该IC会产生复位信号。 R3130N系列在检测模式下输出“L”，而R3131N系列输出“H”。 此外，R3130N/R3131N系列的每个IC都内置了一个输出延迟发生器。当电源电压从低值升至高于设定的检测器阈值电压时，在IC内固定的设定延迟时间内，该IC会保持复位状态。输出延迟时间可选。（典型值240ms为标准值。） 有两种输出类型可供选择：N沟道开漏型和CMOS型。 由于这些IC采用SOT23 - 3（迷你模塑）封装，因此可以在电路板上进行高密度安装。

• 与MAX 809/810引脚兼容（R3130Nxxxx：MAX 809，R3131Nxxxx：MAX 810）
• 超低电源电流。典型值1.25μA（R313xN27xx：VDD = 3.0V）
• 工作电压范围。1.0V至6.0V（Topt = 25°C）
• 检测器阈值。可在1.6V至4.8V范围内以0.1V为步长进行设置。
• 内置上电复位延迟时间电路。延迟时间可指定。
• 高准确度检测器阈值。±1.5%
• 高准确度输出延迟时间。±10.0%
• 检测器阈值的低温漂系数。典型值±100ppm/°C
• 两种输出类型。N沟道开漏型和CMOS型
• 小封装。SOT - 23 - 3

• CPU和逻辑电路复位
• 电池检测器
• 窗口比较器
• 波形整形电路
• 电池备份电路
• 电源故障检测器