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MT29F2G16ABBEAH4-AAT:E TR引脚图
  • 引脚图
  • 焊盘图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

MT29F2G16ABBEAH4-AAT:E TR

汽车用NAND闪存,支持内部数据移动操作,符合ONFI 1.0标准,采用单级单元技术

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品牌名称
micron(镁光)
商品型号
MT29F2G16ABBEAH4-AAT:E TR
商品编号
C6313714
商品封装
VFBGA-63(9x11)​
包装方式
编带
商品毛重
0.382克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录NAND FLASH
存储容量2Gbit
接口类型Parallel
时钟频率(fc)-
工作电压1.7V~1.95V
写周期时间(Tw)-
页写入时间(Tpp)200us
属性参数值
块擦除时间(tBE)700us
数据保留 - TDR(年)-
工作温度-40℃~+105℃
待机电流15uA
擦写寿命10万次
功能特性硬件复位功能;硬件写保护功能;读缓存功能;OTP区域写保护与锁定功能;ECC纠错功能;复制回写功能

商品特性

  • 符合开放NAND闪存接口1.0标准
  • 采用单层单元技术
  • 组织结构:x8位宽页大小为2112字节(2048字节+64字节);x16位宽页大小为1056字(1024字+32字);块大小为64页(128K字节+4K字节);每个平面大小为2个平面×每平面1024个块;器件总容量为2Gb:共2048个块
  • 异步I/O性能:读取/写入周期时间(tRC/tWC)为20纳秒(3.3V)和25纳秒(1.8V)
  • 阵列性能:读取页时间为25微秒;编程页时间为200微秒(典型值,1.8V,3.3V);擦除块时间为700微秒(典型值)
  • 命令集:符合开放NAND闪存接口NAND闪存协议
  • 高级命令集:支持页缓存编程模式、页缓存读取模式、一次性可编程模式、双平面命令、交错晶片操作、读取标识符、块锁定(仅1.8V)、内部数据搬移
  • 操作状态字节提供检测操作完成与通过/失败条件的软件方法
  • 就绪/忙信号提供检测操作完成的硬件方法
  • 写保护信号用于保护整个器件
  • 出厂时第一块(块地址00h)带有纠错码,为有效块。关于最小所需纠错码,请参阅错误管理章节
  • 如果编程/擦除周期少于1000次,块0需要1位纠错码
  • 上电后需要将复位命令作为第一条命令
  • 支持上电后设备初始化的替代方法
  • 支持在读取数据所在平面内进行内部数据搬移操作
  • 质量与可靠性:数据保持时间为10年;耐久性为100,000次编程/擦除周期
  • 工作电压范围:VCC为2.7~3.6V;VCC为1.7~1.95V
  • 工作温度范围:汽车工业级为-40℃~+85℃;汽车级为-40℃~+105℃
  • 封装:48引脚薄型小外形封装类型1,中心分型线;63焊球超薄细间距球栅阵列

数据手册PDF