71V3578YS133PF
71V3578YS133PF
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- 品牌名称
- RENESAS(瑞萨)/IDT
- 商品型号
- 71V3578YS133PF
- 商品编号
- C5913671
- 商品封装
- TQFP-100(14x20)
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 静态随机存取存储器(SRAM) |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 功能特性 | 自动掉电功能;边界扫描(JTAG)功能 |
商品概述
IDT71V3576/78是高速静态随机存取存储器(SRAM),组织形式为128K x 36/256K x 18。这些SRAM包含写入、数据、地址和控制寄存器。内部逻辑允许SRAM根据决策生成自定时写入,该决策可留到写入周期结束时做出。突发模式功能为系统设计人员提供了最高水平的性能,因为IDT71V3576/78可以为呈现给SRAM的单个地址提供四个周期的数据。内部突发地址计数器从处理器接收第一个周期地址,启动访问序列。输出数据的第一个周期将在流水线中延迟一个周期,然后在下一个上升时钟沿可用。如果选择突发模式操作(ADV = 低电平),则后续三个周期的输出数据将在下三个上升时钟沿提供给用户。这三个地址的顺序由内部突发计数器和LBO输入引脚定义。IDT71V3576/78 SRAM采用IDT最新的高性能CMOS工艺,封装形式为JEDEC标准的14mm x 20mm 100引脚薄型塑料四方扁平封装(TQFP)、119球栅阵列(BGA)和165细间距球栅阵列(fBGA)。
商品特性
- 128K x 36、256K x 18内存配置
- 支持高系统速度:商用和工业用:
- 150MHz 3.8ns时钟访问时间
- 133MHz 4.2ns时钟访问时间
- LBO输入选择交错或线性突发模式
- 具有全局写入控制(GW)、字节写入使能(BWE)和字节写入(BWx)的自定时写入周期
- 3.3V核心电源
- 由ZZ输入控制掉电
- 3.3V I/O
- 可选 - 边界扫描JTAG接口(符合IEEE 1149.1标准)
- 封装形式为JEDEC标准的100引脚塑料薄型四方扁平封装(TQFP)、119球栅阵列(BGA)和165细间距球栅阵列(fBGA)
- 71V416L15Y
- 71V65602S150PF
- 71V65703S85PFG
- 71V65903S85PFG
- SVC75C3B48D2-50.000M
- SVC75C3C07A2-100.000M
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- SVC75C3C38D2-10.000M
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