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MT54V512H18EF-6C实物图
  • MT54V512H18EF-6C商品缩略图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

MT54V512H18EF-6C

MT54V512H18EF-6C

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品牌名称
micron(镁光)
商品型号
MT54V512H18EF-6C
商品编号
C5784878
商品封装
FBGA-165(13x15)​
包装方式
袋装
商品毛重
1克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录静态随机存取存储器(SRAM)
存储容量9Mbit
工作电压2.4V~2.6V
属性参数值
工作温度0℃~+70℃
功能特性边界扫描(JTAG)功能

商品概述

美光QDR(四倍数据速率)同步流水线突发静态随机存取存储器采用高速、低功耗CMOS设计,运用先进的6T CMOS工艺。QDR架构由两个独立的DDR(双倍数据速率)端口组成,用于访问存储阵列。读端口有专用数据输出支持读操作,写端口有专用数据输入支持写操作,这种架构无需高速总线转换。通过公共地址总线访问每个端口,读写地址在K输入时钟的交替上升沿锁存。每个地址位置关联四个18位字,它们按顺序突发进出设备。由于数据可在两个时钟(K、K#、C和C#)的每个上升沿进出设备,因此在简化系统设计的同时最大化了内存带宽。深度扩展通过每个端口的端口选择(读R#、写W#)实现,这些选择在K上升沿接收。端口选择允许独立端口操作。所有同步输入通过由K或K#输入时钟上升沿控制的寄存器。低电平有效字节写(BW0#、BW1#)允许字节写选择。写数据和字节写在K和K#的上升沿寄存。每四个突发内的寻址是固定且顺序的。所有同步数据输出通过由输出时钟(如果提供C和C#,否则为K和K#)上升沿控制的输出寄存器。四个引脚用于实现JTAG测试功能:测试模式选择(TMS)、测试数据输入(TDI)、测试时钟(TCK)和测试数据输出(TDO)。JTAG电路用于与SRAM串行移位数据。JTAG输入在测试操作模式下使用JEDEC标准2.5V I/O电平来移位数据。SRAM由+2.5V电源供电,所有输入和输出与HSTL兼容。该设备非常适合受益于高速全利用DDR数据总线的应用。

商品特性

  • 9Mb密度(512K x 18)
  • 独立的读写数据端口,支持并发事务
  • 100%总线利用率的DDR读写操作
  • 高频操作,可向更高时钟频率迁移
  • 时钟到有效数据时间快
  • 全数据一致性,提供最新数据
  • 四节拍突发计数器,降低地址频率
  • 读写端口双倍数据速率操作
  • 两个输入时钟(K和K#),仅在时钟上升沿实现精确DDR定时
  • 两个输出时钟(C和C#),用于精确飞行时间和时钟偏斜匹配,时钟和数据一起传送到接收设备
  • 单地址总线
  • 简单控制逻辑,便于深度扩展
  • 内部自定时、寄存写操作
  • +2.5V核心和HSTL I/O
  • 时钟停止功能
  • 13mm x 15mm、1mm间距、11 x 15网格FBGA封装
  • 用户可编程阻抗输出
  • JTAG边界扫描

应用领域

  • 高速数据处理
  • 网络通信
  • 数据存储
  • 服务器
  • 高性能计算

数据手册PDF