MT54V512H18EF-6C
MT54V512H18EF-6C
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- 品牌名称
- micron(镁光)
- 商品型号
- MT54V512H18EF-6C
- 商品编号
- C5784878
- 商品封装
- FBGA-165(13x15)
- 包装方式
- 袋装
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 静态随机存取存储器(SRAM) | |
| 存储容量 | 9Mbit | |
| 工作电压 | 2.4V~2.6V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 工作温度 | 0℃~+70℃ | |
| 功能特性 | 边界扫描(JTAG)功能 |
商品概述
美光QDR(四倍数据速率)同步流水线突发静态随机存取存储器采用高速、低功耗CMOS设计,运用先进的6T CMOS工艺。QDR架构由两个独立的DDR(双倍数据速率)端口组成,用于访问存储阵列。读端口有专用数据输出支持读操作,写端口有专用数据输入支持写操作,这种架构无需高速总线转换。通过公共地址总线访问每个端口,读写地址在K输入时钟的交替上升沿锁存。每个地址位置关联四个18位字,它们按顺序突发进出设备。由于数据可在两个时钟(K、K#、C和C#)的每个上升沿进出设备,因此在简化系统设计的同时最大化了内存带宽。深度扩展通过每个端口的端口选择(读R#、写W#)实现,这些选择在K上升沿接收。端口选择允许独立端口操作。所有同步输入通过由K或K#输入时钟上升沿控制的寄存器。低电平有效字节写(BW0#、BW1#)允许字节写选择。写数据和字节写在K和K#的上升沿寄存。每四个突发内的寻址是固定且顺序的。所有同步数据输出通过由输出时钟(如果提供C和C#,否则为K和K#)上升沿控制的输出寄存器。四个引脚用于实现JTAG测试功能:测试模式选择(TMS)、测试数据输入(TDI)、测试时钟(TCK)和测试数据输出(TDO)。JTAG电路用于与SRAM串行移位数据。JTAG输入在测试操作模式下使用JEDEC标准2.5V I/O电平来移位数据。SRAM由+2.5V电源供电,所有输入和输出与HSTL兼容。该设备非常适合受益于高速全利用DDR数据总线的应用。
商品特性
- 9Mb密度(512K x 18)
- 独立的读写数据端口,支持并发事务
- 100%总线利用率的DDR读写操作
- 高频操作,可向更高时钟频率迁移
- 时钟到有效数据时间快
- 全数据一致性,提供最新数据
- 四节拍突发计数器,降低地址频率
- 读写端口双倍数据速率操作
- 两个输入时钟(K和K#),仅在时钟上升沿实现精确DDR定时
- 两个输出时钟(C和C#),用于精确飞行时间和时钟偏斜匹配,时钟和数据一起传送到接收设备
- 单地址总线
- 简单控制逻辑,便于深度扩展
- 内部自定时、寄存写操作
- +2.5V核心和HSTL I/O
- 时钟停止功能
- 13mm x 15mm、1mm间距、11 x 15网格FBGA封装
- 用户可编程阻抗输出
- JTAG边界扫描
应用领域
- 高速数据处理
- 网络通信
- 数据存储
- 服务器
- 高性能计算
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