老化座sop24(28)-1.27 IC测试座

价格：￥11.53价格含税（税率13%）

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(12个/盒，最小起订量1个，递增量：1)

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商品参数

参数完善中

1 适配封装：兼容SOP24/28封装的IC芯片，针脚间距1.27mm，满足标准SOP封装的测试需求

2 电气性能：绝缘电阻≥1000MΩ（DC500V），耐电压AC700V/1分钟，接触电阻≤30mΩ（初始值，10mA/20mV条件下），电流额定值最大1A，确保稳定的电气连接和测试准确性

3 环境适应性：工作温度范围-55℃~+175℃，可应对高低温环境下的老化测试场景

4 机械性能：机械寿命达15000次，操作力最大10Kg，结构耐用，长期使用不易损坏

5 结构设计：采用PCB兼容图案设计，底部接触与顶部接触双重结构，针脚排列规整，便于安装和IC芯片插入操作

1 电子研发阶段：用于IC芯片的功能验证、参数测试，帮助工程师快速评估芯片性能

2 生产制造环节：生产线IC老化测试，筛选出性能稳定的芯片，提升产品良率

3 质量检测场景：质检部门对IC芯片进行抽样测试，确保产品符合质量标准

4 维修维护领域：维修人员替换IC芯片时，通过测试座快速检测芯片好坏，提高维修效率

1 插入操作：插入IC芯片时需对准针脚方向，避免倾斜或错位导致针脚损坏，操作力不超过10Kg

2 环境要求：避免在潮湿、腐蚀性气体或粉尘过多的环境中使用，防止影响电气性能和机械寿命

3 定期维护：定期检查接触电阻，若发现接触不良需及时清洁或更换，确保测试结果准确

4 存储条件：闲置时应存放在干燥、通风的环境中，温度保持在常温范围，避免阳光直射

5 安全规范：进行电气测试时需遵守相关安全操作规范，防止触电或设备损坏

老化座sop24(28)-1.27 IC测试座

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