MCP33141D-10T-E/MS

MCP33151D/41D-10和MCP33151D/41D-05分别是全差分、14位和12位、单通道、1 Msps和500 kSPS的ADC系列器件，具有低功耗和高性能的特点，采用逐次逼近寄存器（SAR）架构。 该器件使用从AVDD到5.1V的外部电压基准（VREF）工作，支持从 -VREF到 +VREF的宽范围输入满量程。基准电压设置与模拟电源电压（AVDD）无关。转换输出可通过易于使用的简单SPI兼容三线接口获得。 该器件需要1.8V的模拟电源电压（AVDD）和1.7V至5.5V的数字I/O接口电源电压（DVIO）。宽数字I/O接口电源（DVIO）范围（1.7 - 5.5V）允许该器件与当前行业中大多数可用的主机设备（主设备）（如PIC32微控制器）接口，而无需使用外部电压电平转换器。 一旦连接所有电源电压，器件将上电并执行自动校准，以最小化失调、增益和线性误差。自动校准在上电后约40 ms进行，在此之后必须确保所有电源完全稳定。器件性能在指定温度范围内保持稳定。但是，当工作环境相对于初始条件发生极端变化（如基准电压变化）时，用户可以随时发送重新校准命令以启动另一次自校准并恢复最佳性能。 当初始上电序列完成后，器件进入低电流输入采集模式（也称为“待机模式”），此时采样电容连接到输入引脚。 在待机期间，大部分内部模拟电路关闭以降低电流消耗。通常，器件在待机期间消耗约1.5 μA电流。在CNVST的上升沿开始新的转换。当转换完成且主机拉低CNVST时，输出数据在SDO上呈现，器件进入待机状态以开始采集下一个输入样本。用户可以在待机期间使用SPI兼容串行时钟将ADC输出数据移出。 ADC系统时钟由内部片上时钟生成，因此转换独立于SPI串行时钟（SCLK）进行。 该器件可用于各种高速、高精度的模数数据转换应用，这些应用需要设计简单、低功耗且无输出延迟。 该器件符合AEC-Q100汽车应用标准，工作温度范围扩展至 -40°C至 +125°C。可用的封装选项包括无铅的3 mm x 3 mm小型TDFN-10和MSOP-10。

• 采样率（吞吐量）：
  • MCP33151D/41D-10：1 Msps
  • MCP33151D/41D-05：500 kSPS
• 14/12位分辨率，无丢码
• 无延迟输出
• 宽工作电压范围：
  • 模拟电源电压（AVDD）：1.8V
  • 数字输入/输出接口电压（DVIO）：1.7 - 5.5V
  • 外部基准电压（VREF）：AVDD - 5.1V
• 差分输入操作
  • 输入满量程范围： -VREF至 +VREF
• 超低电流消耗（典型值）：
  • 输入采集期间（待机）：~1.5 μA
  • 转换期间：
    • MCP33151D/41D-10：~0.66 mA
    • MCP33151D/41D-05：~0.33 mA
• SPI兼容串行通信：
  • SCLK时钟速率：高达100 MHz
  • 三线接口，可选BUSY指示
• ADC自校准失调、增益和线性误差：
  • 上电期间（自动）
  • 正常操作期间按需通过用户命令
• 内置数据累加器
  • 最多可对1024个连续转换样本进行积分
  • 通过自动平均转换结果将有效位数（ENOB）提高至18.5位
• 符合AEC-Q100标准：
  • 温度等级1： -40°C至 +125°C
• 封装选项：MSOP-10和TDFN-10

• 高精度数据采集
• 医疗仪器
• 测试设备
• 电动汽车电池管理系统
• 电机控制应用
• 开关模式电源应用
• 电池供电设备