71V2576YS150PF
71V2576YS150PF
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- 品牌名称
- RENESAS(瑞萨)/IDT
- 商品型号
- 71V2576YS150PF
- 商品编号
- C5522406
- 商品封装
- TQFP-100(14x14)
- 包装方式
- 编带
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 静态随机存取存储器(SRAM) |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 功能特性 | 自动掉电功能;边界扫描(JTAG)功能 |
商品概述
IDT71V2576/78是高速静态随机存取存储器(SRAM),组织形式为128K x 36/256K x 18。这些SRAM包含写入、数据、地址和控制寄存器。内部逻辑允许SRAM根据决策生成自定时写入,该决策可留到写入周期结束时做出。突发模式功能为系统设计人员提供了最高级别的性能,因为IDT71V2576/78可以为呈现给SRAM的单个地址提供四个周期的数据。内部突发地址计数器从处理器接收第一个周期的地址,启动访问序列。输出数据的第一个周期将被流水线处理一个周期,然后在下一个上升时钟沿可用。如果选择突发模式操作(ADV = 低电平),则后续三个周期的输出数据将在下三个上升时钟沿提供给用户。这三个地址的顺序由内部突发计数器和LBO输入引脚定义。IDT71V2576/78 SRAM采用IDT最新的高性能CMOS工艺,并封装在JEDEC标准的14mm x 20mm 100引脚薄塑料四方扁平封装(TQFP)以及119球栅阵列(BGA)和165细间距球栅阵列(fBGA)中。
商品特性
- 128K x 36、256K x 18内存配置
- 支持高系统速度:商业和工业级:150MHz(3.8ns时钟访问时间)、133MHz(4.2ns时钟访问时间)
- LBO输入选择交错或线性突发模式
- 带全局写入控制(GW)、字节写入使能(BWE)和字节写入(BWx)的自定时写入周期
- 3.3V核心电源
- 由ZZ输入控制掉电
- 2.5V I/O
- 可选 - 边界扫描JTAG接口(符合IEEE 1149.1标准)
- 封装形式:JEDEC标准100引脚塑料薄四方扁平封装(TQFP)、119球栅阵列(BGA)和165细间距球栅阵列(fBGA)
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