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SE97BTP,547

DDR内存模块温度传感器,带集成SPD

描述
测量温度范围为 -40°C 至 +125°C,在 +75°C 至 +95°C 关键区域内,符合 JEDEC Grade B 1°C 最大精度要求,还提供 256 字节的 EEPROM 存储器,通过 I²C-总线/SMBus 进行通信。通常安装在 DDR3 双列直插式内存模块 (DIMM) 上,根据新的 JEDEC (JC-42.4) 移动平台内存模块温度传感器组件规范测量 DRAM 温度,并取代用于存储内存模块和供应商信息的串行存在检测 (SPD)。
品牌名称
NXP(恩智浦)
商品型号
SE97BTP,547
商品编号
C5190825
商品封装
HWSON-8-EP(2x3)​
包装方式
编带
商品毛重
0.025克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录温度传感器
检测温度-40℃~+125℃
精度±3℃
工作电压3V~3.6V
待机电流-
属性参数值
接口类型I2C;SMBus
温度转换时间125ms
温度分辨率11bit
工作温度-
功能特性温度阈值监测;硬件比较器/独立温控输出;片内非易失参数存储

商品概述

符合JEDEC Specification 42.4 TSE2002B1(2009年6月3日)。NXP Semiconductors SE97B可测量-40℃ 到 +125℃的温度,在+75℃ 到 +95℃关键区域JEDEC Grade B精度最大为±1℃,同时带有256字节EEPROM存储器,通过I²C-bus/SMBus通信。它通常安装在DDR3 Dual In-Line Memory Module (DIMM)上,按照新的JEDEC (JC-42.4)移动平台内存模块温度传感器组件规范测量DRAM温度,同时替代用于存储内存模块和供应商信息的串行存在检测(SPD)。SE97B温度传感器和EEPROM工作在3.0V到3.6V的VDD范围。温度传感器由ΔΣ模数转换器(ADC)构成,每秒监控并更新10次温度读数,将读数转换为数字数据,并锁存到温度数据寄存器中。用户可编程寄存器,可配置上下限报警、临界温度跳变点、EVENT输出控制和温度关断,为DIMM温度传感应用提供灵活性。当温度变化超出指定范围时,SE97B通过开漏输出输出EVENT信号,上拉电压可在0.9V到3.6V之间。为恒温器操作设置EVENT输出信号极性为低电平有效或高电平有效比较器输出,也可以为基于微处理器的系统设置温度事件中断输出。EVENT输出还可以配置为仅临界温度输出。EEPROM专门为DRAM DIMM的SPD设计。低128字节(地址00h到7Fh)可通过软件实现永久写保护(PWP)或可逆写保护(RWP),允许存储DRAM供应商和产品信息并进行写保护。高128字节(地址80h到FFh)没有写保护,可用于通用数据存储。SE97B将温度传感器和EEPROM集成在单个裸片上,具有更高的可靠性,支持行业标准的2线I²C-bus/SMBus串行接口。支持SMBus TIMEOUT功能,防止系统锁死。制造商和设备ID寄存器可用于确认设备身份。三个地址引脚允许单条总线上最多控制八个设备。SE98B仅提供SE97B的温度传感器功能版本。

商品特性

  • JEDEC (JC-42.4) DIMM温度传感器加256字节串行EEPROM,用于串行存在检测(SPD)
  • SDA开漏输出设计,适合分布式多点应用
  • 兼容I²C-bus/SMBus 2线接口,支持总线速率0 Hz到400 kHz
  • 支持SMBus报警响应地址和可编程25 ms到35 ms TIMEOUT功能
  • ESD保护超过2500 V HBM(JESD22-A114)、250 V MM(JESD22-A115)和1000 V CDM(JESD22-C101)
  • 闩锁测试符合JEDEC标准JESD78,电流超过100mA
  • 采用HWSON8封装
  • 11位ADC温度数字转换器,分辨率0.125℃
  • 可编程迟滞阈值,可选关断、0℃、1.5℃、3℃、6℃
  • 提供过温/欠温/临界温度EVENT输出
  • B级精度,不同温度范围满足对应精度要求
  • EEPROM组织为256字节×8位的存储块
  • 支持100000次擦写循环,数据保留时间10年
  • 支持永久和可逆软件写保护,低128字节支持软件写保护

应用领域

  • DDR2和DDR3内存模块
  • 笔记本电脑、个人电脑和服务器
  • 企业网络
  • 硬盘驱动器和其他PC外设