SCAN16512A是一款高速、低功耗通用总线收发器，数据输入分为两个8位字节，带有输出使能和锁存使能控制信号。该器件可配置为D型锁存器或触发器，可工作在透明模式、锁存模式或时钟模式。该器件符合IEEE 1149.1标准测试访问端口和边界扫描架构，集成了定义的边界扫描测试逻辑和测试访问端口，包含测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)和测试复位(TRST)。在正常模式下，该器件为16位通用总线收发器，集成了D型锁存器和D型触发器，允许数据在透明模式、锁存模式或时钟模式下传输。可用作两个8位收发器，或一个16位收发器。测试电路可通过TAP激活，对器件引脚上出现的数据获取快照样本，或对边界测试单元进行自检。激活TAP可能会影响通用总线收发器的正常功能操作。当TAP激活时，测试电路根据IEEE Std 1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。每个方向的数据流由输出使能(OEAB和OEBA)、锁存使能(LEAB和LEBA)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入控制。对于A到B的数据流，当LEAB为高电平时，器件工作在透明模式。当LEAB为低电平时，CLKAB保持在静态低电平或高电平逻辑电平期间，A数据被锁存；LEAB为低电平时，A数据会在CLKAB的低到高跳变沿存储。当OEAB为低电平时，B输出处于激活状态；当OEAB为高电平时，B输出处于高阻抗状态。B到A的数据流与A到B类似，但使用OEBA、LEBA和CLKBA输入。五个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)和测试复位(TRST)。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。

	属性	参数值
	商品目录	锁存器
	逻辑类型	D型锁存器
	输出类型	三态
	工作电压	2.7V~3.6V
	通道数	16
	拉电流(IOH)	24mA
	灌电流(IOL)	24mA

	属性	参数值
	传播延迟(tpd)	5.5ns
	系列	SCAN16512A
	工作温度	-40℃~+85℃
	建立时间	1.5ns
	保持时间	2.5ns
	静态电流(Iq)	20uA

SCAN16512ASM

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