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AD4852BBCZ

AD4852BBCZ

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品牌名称
ADI(亚德诺)
商品型号
AD4852BBCZ
商品编号
C45662042
商品封装
BGA-64(7x7)​
包装方式
托盘
商品毛重
0.2克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录ADC/DAC-专用型
分辨率(位)-
通道数4
工作电压-40.75V~0V;7.25V~48V;4.75V~5.25V
接口类型SPI;LVDS
芯片类型-
工作温度-40℃~+125℃
属性参数值
采样率250kHz
静态电流(Iq)-
积分非线性0.2LSB
功能特性可编程增益;双极性输入;内置基准源;数字滤波
ADC架构-
微分非线性0.2LSB

商品概述

AD4852是一款完全缓冲的4通道同步采样20位250kSPS数据采集系统,具有差分、宽共模范围输入。该器件采用5V低电压电源供电,配合灵活的输入缓冲器电源以及精密低漂移的内部基准电压源和基准缓冲器,允许每个通道的SoftSpan范围独立配置以匹配应用信号的摆幅,从而最大程度减少额外的外部信号调理。为了进一步最大化单次转换的动态范围,AD4852集成了无缝高动态范围技术。启用后,通道的输入信号路径增益会在逐个采样的基础上自动优化,从而在不影响线性的情况下最小化每个采样点的转换器噪声。AD4852的11MHz带宽、皮安级输入模拟缓冲器、宽输入共模范围和120dB共模抑制比,使其能够直接对INx+和INx-上具有任意摆幅的输入信号进行数字化。其输入信号灵活性,结合±160μV积分非线性、20位无失码、97.2dB信噪比和111.4dB动态范围,使得AD4852成为在紧凑解决方案占位面积中需要高精度、高吞吐量和高精密度的应用的理想选择。启用24位过采样可提供进一步的SNR和动态范围改进。可选的每通道偏移、增益和相位调整功能提供了校准和消除DAS上游系统级误差的能力。AD4852具有串行外设接口寄存器配置总线,并支持低电压差分信号总线和互补金属氧化物半导体转换数据输出总线,可通过LVDS/CMOS引脚选择。在CMOS模式下,可使用一至四条数据输出线,允许用户优化总线宽度和吞吐量。

商品特性

  • 完整的20位数据采集系统
  • 4个内部缓冲通道的同步采样
  • 每通道250kSPS吞吐量
  • 差分、宽共模范围输入
  • 典型输入漏电流在25°C时为±75pA
  • 满量程输入阶跃建立时间小于300ns
  • 集成基准电压源和基准缓冲器
  • 集成电源去耦电容
  • 在250kSPS时每通道功耗为36mW,功耗随吞吐量缩放
  • 最少的外部信号调理
  • 无缝高动态范围
  • 每采样、每通道自动增益量程
  • 保持ppm级积分非线性
  • 每通道SoftSpan输入范围,双极性或单极性
  • 双极性范围:±40V、±25V、±20V、±12.5V、±10V、±6.25V、±5V、±2.5V
  • 单极性范围:0V至40V、25V、20V、12.5V、10V、6.25V、5V、2.5V
  • 轨到轨输入过压容限
  • 高性能
  • 典型积分非线性:±160μV
  • 典型单次转换信噪比:97.2dB
  • 典型单次转换动态范围:111.4dB
  • 典型总谐波失真:-117dB
  • 典型共模抑制比:120dB
  • 数字灵活性
  • SPI CMOS和LVDS串行输入和输出
  • 可选的过采样及24位数字平均
  • 可选的偏移、增益和相位校正
  • 7.00mm × 7.00mm、64球BGA全解决方案占位面积

应用领域

  • 自动测试设备
  • 仪器仪表与控制系统
  • 半导体制造
  • 测试与测量

数据手册PDF