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PE42420F-Z实物图
  • PE42420F-Z商品缩略图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

PE42420F-Z

20-6000MHzSPDT射频开关

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描述
PE42420是一款采用HaRPTM技术增强的SPDT射频开关,适用于3G/4G无线基础设施和其他高性能RF应用。它适用于发射路径切换、RF和IF信号路由、AGC环路和滤波器组切换应用。
商品型号
PE42420F-Z
商品编号
C3303823
商品封装
LGA-20(4x4)​
包装方式
编带
商品毛重
0.498克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录射频开关
频率20MHz~6GHz
隔离度50dB
属性参数值
插入损耗1.6dB
工作电压2.7V~5.5V
工作温度-65℃~+125℃

商品概述

PE42420是一款采用HaRP™技术增强的吸收式单刀双掷(SPDT)射频开关,专为3G/4G无线基础设施和其他高性能射频应用而设计。它非常适合发射路径切换、射频和中频信号路由、自动增益控制(AGC)环路以及滤波器组切换应用。 这款通用开关由两个对称的射频端口组成,在高达6 GHz的频率范围内具有出色的端口间隔离性能。集成的CMOS解码器支持双引脚低压CMOS控制接口。此外,如果射频端口上存在0 VDC,则无需外部隔直电容。 PE42420采用pSemi的UltraCMOS®工艺制造,这是一种在蓝宝石衬底上的绝缘体上硅(SOI)技术的专利变体。 pSemi的HaRP技术增强功能可实现高线性度和出色的谐波性能。它是UltraCMOS工艺的一项创新特性,兼具砷化镓(GaAs)的性能以及传统CMOS的经济性和集成度。

商品特性

  • 采用HaRP™技术增强
  • 无栅极和相位滞后
  • 插入损耗和相位无漂移
  • 高线性度
  • 三阶输入截点(IIP3)为65 dBm
  • 高隔离度
  • 1 GHz时为69 dB
  • 3 GHz时为62 dB
  • 6 GHz时为50 dB
  • 支持+1.8V控制逻辑
  • 工作温度可达+125 ℃
  • 高静电放电(ESD)耐受性
  • 射频公共端(RFC)的人体模型(HBM)静电放电耐压为4 kV

应用领域

  • 3G/4G无线基础设施
  • 其他高性能射频应用
  • 发射路径切换
  • 射频和中频信号路由
  • 自动增益控制(AGC)环路
  • 滤波器组切换应用

数据手册PDF

优惠活动

购买数量

(3000个/圆盘,最小起订量 1 个)
起订量:1 个3000个/圆盘

总价金额:

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