SN74ACT8997NT

ACT8997是德州仪器SCOPE可测试性集成电路系列的成员。该系列组件有助于测试复杂的电路板组件。ACT8997通过允许系统的主扫描路径与次级扫描路径（SSP）相结合来增强TI的SCOPE系列的扫描能力，这些次级扫描路径可以由ACT8997单独选择并包含在主扫描路径中。这些设备还提供测试信号的缓冲，以减少对外部逻辑的需求。

通过将适当的值加载到指令寄存器和数据寄存器中，用户可以选择最多四个SSP包含在一个主扫描路径中。一次可以选择任何组合的SSP。设备的六个数据寄存器或指令寄存器中的任何一个都可以放置在设备的扫描路径中，即放置在测试数据输入(TDI)和测试数据输出(TDO)之间，以便后续的移位和扫描操作。

除了计数外，设备的所有操作都同步于测试时钟引脚(TCK)。8位可编程上下计数器可用于对设备条件输入(DCI)引脚上的转换进行计数，并通过设备条件输出(DCO)引脚输出中断信号。该设备可以配置为在DCI的上升沿或下降沿计数。

测试访问端口(TAP)控制器是一个符合IEEE标准1149.1的有限状态机。SN54ACT8997的工作温度范围为-55℃至125℃。SN74ACT8997的工作温度范围为0℃至70℃。