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SCANSTA112SM
SCANSTA112 7端口多路IEEE 1149.1 (JTAG)多路复用器
- 描述
- SCANSTA112扩展了IEEE Std. 1149.1测试总线到多点测试总线环境，支持多达7个本地IEEE 1149.1扫描链，可以单独或串联访问。
- 品牌名称
- TI(德州仪器)
- 商品型号
- SCANSTA112SM
- 商品编号
- C3207884
- 商品封装
- FBGA-100(10x10)
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 0.09克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 其他接口 | |
| 接口类型 | JTAG | |
| 工作电压 | 3V~3.6V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 工作温度 | -40℃~+85℃ | |
| 静态电流 | 3.8mA |
商品概述
SCANSTA112将IEEE Std. 1149.1测试总线扩展到多点测试总线环境中。与单个串行扫描链相比，多点连接方式的优势在于提高了测试吞吐量，并且能够将一块电路板从系统中移除，同时仍可对其余模块进行测试访问。每个SCANSTA112最多支持7个本地IEEE1149.1扫描链，这些扫描链可以单独访问或串行组合访问。 寻址通过向指令寄存器加载与插槽输入值匹配的值来实现。通过“Park”指令将本地TAP控制器置于稳定的TAP控制器状态之一，可轻松完成背板和板间测试。32位TCK计数器可在对一个端口执行内置自测试操作的同时，对其他扫描链进行同步测试。 STA112具有一个独特的特性，即背板端口和LSP0端口是双向的。它们可以配置为交替充当主端口或从端口，因此当背板端口变为从端口时，备用测试主设备可以从LSP0端口控制整个扫描链网络。 SCANSTA112是使IEEE - 1149.1扫描链能够进行多点寻址和多路复用的系列中的第三款器件。SCANSTA112是其前身——SCANPSC110和SCANSTA111的超集。STA112具备前两款器件的所有特性和功能。 STA112本质上是IEEE 1149.1标准的支持器件。它主要用于将扫描链划分为可管理的大小，或将特定器件隔离到单独的链上。多个扫描链的优点包括提高故障隔离能力、缩短测试时间、加快编程时间以及减少向量集。 除了扫描链分区，该器件还可在多点背板环境中进行寻址。在这种配置下，多个板载STA112且可访问IEEE - 1149.1的卡可以利用相同的背板测试总线进行系统级IEEE - 1149.1访问。这种方法有助于在整个系统生命周期内全面开展结构测试和编程工作。
商品特性
- 真正的IEEE 1149.1分层和多点可寻址能力
- 8个地址输入支持多达249个唯一插槽地址、一个询问地址、广播地址和4个多播组地址（地址000000保留）
- 7个与IEEE 1149.1兼容的可配置本地扫描端口
- 双向背板和Lsp₀端口可互换
- 从端口在背板端口变为从端口时能够忽略其TRST信号
- 缝合器模式可绕过一级和二级协议
- 模式寄存器允许本地TAP被绕过、单独选择插入扫描链，或以两个或三个为一组串行插入
- 可通过单条指令启用透明模式，方便地将背板IEEE 1149.1引脚缓冲到单个本地扫描端口上的引脚
- 通用本地端口直通位可用于提供闪存编程的写入脉冲或监控设备状态
- 所有本地扫描端口上的TRST具有已知上电状态
- 32位TCK计数器
- 16位LFSR签名压缩器
- 本地TAP可通过OE输入变为三态，以便备用测试主设备控制本地TAP [LsP₀₋₃具有三态通知输出]
- 3.0 - 3.6V νcc电源供电
- 支持带电插拔