SCAN921224SLC-TI
SCAN921023 和 SCAN921224 20-66MHz 10位总线 LVDS 串行器和解串器，带有 IEEE 1149.1 (JTAG) 和全速 BIST
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- 描述
- SCAN921023 将10位宽并行LVCMOS/LVTTL数据总线转换为单个高速Bus LVDS串行数据流，嵌入时钟。SCAN921224接收Bus LVDS串行数据流，并将其转换回10位宽并行数据总线，并恢复并行时钟。
- 品牌名称
- TI(德州仪器)
- 商品型号
- SCAN921224SLC-TI
- 商品编号
- C3178399
- 包装方式
- 袋装
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 串行器/解串器 | |
| 类型 | - | |
| 数据速率 | - |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 时钟频率(fc) | - | |
| 工作电压 | 3V~3.6V | |
| 工作温度 | -40℃~+85℃ |
商品概述
SCAN921023将一个10位宽的并行LVCMOS/LVTTL数据总线转换为一个带有嵌入式时钟的单路高速总线LVDS串行数据流。SCAN921224接收该总线LVDS串行数据流，并将其转换回10位宽的并行数据总线，同时恢复并行时钟。这两款器件均符合IEEE 1149.1标准测试访问端口和边界扫描架构，集成了定义的边界扫描测试逻辑和测试访问端口，该端口由测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）、测试时钟（TCK）和可选的测试复位（TRST）组成。IEEE 1149.1特性使设计人员或测试工程师能够访问背板或电缆互连，并能够验证差分信号完整性，以增强其系统测试策略。这对器件还具有高速内建自测试（BIST）模式，允许对串行器和解串器之间的互连进行高速验证。 SCAN921023通过背板或电缆传输数据。单差分对数据路径使PCB设计更简单。此外，减少的电缆、PCB走线数量和连接器尺寸极大地降低了成本。由于一个输出串行传输时钟和数据位，它消除了时钟与数据以及数据与数据之间的偏斜。掉电引脚在不使用任一器件时通过降低电源电流来节省功耗。在串行器上电时，您可以选择激活同步模式，或允许解串器使用同步到随机数据功能。通过使用同步模式，解串器将在指定的锁定时间内锁定信号。此外，嵌入式时钟确保总线每12位周期有一次跳变。这消除了由于电缆充电状态导致的传输错误。此外，您可以将SCAN921023的输出引脚置于三态以实现高阻抗状态。PLL可以锁定20 MHz至66 MHz之间的频率。
商品特性
- 符合IEEE 1149.1（JTAG）标准且支持高速测试
- 内建自测试（BIST）模式
- 从PLL锁定到随机数据模式恢复时钟
- 每个数据传输周期确保有跳变
- 芯片组（发送器 + 接收器）功耗 <500 mW（典型值）@ 66 MHz
- 单差分对消除多通道偏斜
- 直通式引脚排列便于PCB布局
- 660 Mbps串行总线LVDS数据速率（时钟为66 MHz时）
- 10位并行接口，用于1字节数据加2个控制位
- 同步模式和锁定指示
- 可编程时钟边沿触发
- 断电时接收器输入呈高阻抗
- 总线LVDS串行输出适用于27Ω负载
- 小型49引脚NFBGA封装