温馨提醒：图片仅供参考，商品以实物为准

SN74BCT8244ADW

带八进制缓冲器的扫描测试设备，支持IEEE 1149.1 - 1990边界扫描

描述: SN74BCT8244A 具有八路缓冲器的 IEEE 标准 1149.1 (JTAG) 边界扫描测试设备
品牌名称: TI(德州仪器)
商品型号: SN74BCT8244ADW
商品编号: C362443
商品封装: SOIC-24-300mil
包装方式: 管装
商品毛重: 1.72克(g)

商品参数

商品概述

BCT8244A扫描测试器件，带八进制缓冲器，是德州仪器SCOPE™可测试性集成电路家族的成员。该器件系列支持IEEE Standard 1149.1-1990边界扫描，有助于复杂电路板组件的测试。测试电路的扫描访问通过4线测试访问端口（TAP）接口实现。测试电路可由TAP激活，以对器件引脚处出现的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE™八进制缓冲器的功能操作。在测试模式下，SCOPE™八进制缓冲器的正常操作被禁止，测试电路被启用以观察和控制器件的I/O边界。启用后，测试电路可执行IEEE Standard 1149.1-1990中描述的边界扫描测试操作。四个专用测试端子控制测试电路的操作:测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。此外，测试电路还可执行其他测试功能，例如对数据输入进行并行特征分析（PSA），以及从数据输出生成伪随机模式（PRPG）。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。SN54BCT8244A的工作温度范围为-55℃ 至 125℃。SN74BCT8244A的工作温度范围为 0℃ 至 70℃。串行测试信息通过符合IEEE Standard 1149.1-1990标准的4线测试总线（即TAP）传输。测试指令、测试数据和测试控制信号都通过该串行测试总线传输。TAP控制器监控来自测试总线的两个信号:TCK和TMS。TAP控制器从测试总线提取同步（TCK）和状态控制（TMS）信号，并为器件中的测试结构生成适当的片上控制信号。

商品特性

属于德州仪器SCOPE™可测试性产品家族成员
八路测试集成电路
兼容IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) 测试访问端口与边界扫描架构
测试操作与测试访问端口（TAP）同步
通过识别TMS引脚上的双高电平电压（10 V）实现可选测试复位信号
支持SCOPE™指令集
包含IEEE Standard 1149.1-1990要求的指令，以及可选INTEST、CLAMP和HIGHZ指令
输入端支持并行特征分析
输出生成伪随机模式
可采样输入/翻转输出
提供多种封装选项，包括塑料小外形（DW）封装、陶瓷芯片载体（FK）、标准塑料及陶瓷300-mil DIP封装（JT、NT）

应用领域

复杂电路板组件测试

	属性	参数值
	商品目录	缓冲器/驱动器/收发器
	输入类型	-
	输出类型	三态
	工作电压	4.5V~5.5V
	元件数	1
	每个元件位数	8
	通道类型	单向

	属性	参数值
	灌电流(IOL)	64mA
	拉电流(IOH)	15mA
	系列	74BCT
	工作温度	0℃~+70℃
	静态电流(Iq)	-
	传播延迟(tpd)	9ns@5V
	功能特性	输出使能