S29GL512T12TFN020
S29GL512T12TFN020
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- 商品型号
- S29GL512T12TFN020
- 商品编号
- C2959122
- 商品封装
- TFSOP-56
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 3.51克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | NOR FLASH | |
| 接口类型 | Parallel | |
| 存储容量 | 512Mbit | |
| 时钟频率(fc) | 5MHz | |
| 工作电压 | 2.7V~3.6V | |
| 待机电流 | 100uA |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 擦写寿命 | 100000次 | |
| 页写入时间(Tpp) | 60ns | |
| 数据保留 - TDR(年) | 20年 | |
| 工作温度 | -40℃~+125℃ | |
| 功能特性 | 硬件写保护;绝对写保护;写使能锁存;ECC纠错;软件写保护;上电复位 |
商品概述
S29GL01GT/512T是采用45纳米制程技术制造的MIRRORBIT™闪存产品。这些器件提供最快达15纳秒的快速页访问时间,相应的随机访问时间最快达100纳秒。它们具有一个写缓冲区,允许在一次操作中最多编程256字/512字节,从而比标准编程算法具有更快的有效编程时间。这使得这些器件非常适合当今需要更高密度、更好性能和更低功耗的嵌入式应用。
商品特性
- 45纳米MIRRORBIT™技术
- 用于读/编程/擦除的单电源(VCC)(2.7伏至3.6伏)
- 多功能I/O特性
- 宽I/O电压范围(VIO):1.65伏至VCC
- ×8/×16数据总线
- 异步32字节页读取
- 512字节编程缓冲区
- 以页倍数进行编程,最多可达512字节
- 单字和对同一字的多次编程选项
- 自动错误检查和纠正(ECC)——具有单比特错误纠正功能的内部硬件ECC
- 扇区擦除
- 统一的128千字节扇区
- 编程和擦除操作的暂停和恢复命令
- 状态寄存器、数据轮询和就绪/忙引脚方法来确定器件状态
- 高级扇区保护(ASP)
- 每个扇区的易失性和非易失性保护方法
- 独立的2048字节一次性编程(OTP)阵列
- 四个可锁定区域(SSR0 - SSR3)
- SSR0为工厂锁定
- SSR3为密码读取保护
- 通用闪存接口(CFI)参数表
- 温度范围/等级
- 工业级(-40摄氏度至+85摄氏度)
- 增强工业级(-40摄氏度至+105摄氏度)
- 扩展级(-40摄氏度至+125摄氏度)
- 汽车级,AEC - Q100 3级(-40摄氏度至+85摄氏度)
- 汽车级,AEC - Q100 2级(-40摄氏度至+105摄氏度)
- 100,000次编程/擦除周期
- 20年数据保留
- 封装选项
- 56引脚TSOP
- 64球LAA加固BGA,13毫米×11毫米
- 64球LAE加固BGA,9毫米×9毫米
- 56球VBU加固BGA,9毫米×7毫米
- S29GL512T12DHVV20
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