CY7C2670KV18-550BZI
CY7C2670KV18-550BZI
- 商品型号
- CY7C2670KV18-550BZI
- 商品编号
- C2950791
- 商品封装
- FBGA-165(15x17)
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 1克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 静态随机存取存储器(SRAM) | |
| 接口类型 | 并口(Parallel) | |
| 存储容量 | 144Mbit | |
| 工作电压 | 1.7V~1.9V | |
| 读写时间 | - |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 工作温度 | -40℃~+85℃ | |
| 工作电流 | 1.14A | |
| 待机电流 | 500mA | |
| 功能特性 | 自动掉电功能;边界扫描(JTAG)功能;内置延迟锁定环 |
商品概述
CY7C2670KV18是一款配备DDR II+架构的1.8V同步流水线SRAM。DDR II+由一个SRAM内核和先进的同步外围电路组成。读写的地址在输入时钟K的交替上升沿锁存。写数据在K和K的上升沿寄存。读数据在K和K的上升沿驱动。每个地址位置对应两个36位字,这些字顺序突发进出器件。 这些器件具有片上终端特性,支持D[x:0]、BWS[x:0]和K/K输入,有助于消除外部终端电阻、降低成本、减少板面积并简化布线。 异步输入包括一个输出阻抗匹配输入ZQ。同步数据输出Q与两个输出回波时钟CQ/CQ紧密匹配,消除了在系统设计中单独从每个DDR SRAM捕获数据的需求。 所有同步输入通过由K或K输入时钟控制的输入寄存器。所有数据输出通过由K或K输入时钟控制的输出寄存器。写操作由片内同步自定时写电路执行。
商品特性
- 144兆位密度
- 550兆赫时钟
- 双字突发以降低地址总线频率
- 双倍数据率接口
- 可用延迟周期为2.5
- 两个输入时钟用于精确的DDR时序
- SRAM仅使用上升沿
- 回波时钟简化高速系统中的数据捕获
- 数据有效引脚指示输出上的有效数据
- 片上终端特性
- 支持D[x:0]、BWS[x:0]和K/K输入
- 同步内部自定时写操作
- 当DOFF置高时,DDR II+以2.5周期读延迟运行
- 当DOFF置低时,运行类似于具有1周期读延迟的DDR I器件
- 内核VDD = 1.8 V ± 0.1 V;输入/输出VDDQ = 1.4 V 至 VDD
- 支持1.5 V和1.8 V输入/输出电源
- 高速收发器逻辑输入和可变驱动高速收发器逻辑输出缓冲器
- 采用165球细间距球栅阵列封装
- 提供无铅封装选项
- 兼容测试访问端口
- 锁相环用于精确的数据放置
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