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CY7C2670KV18-550BZI引脚图
  • 引脚图
  • 焊盘图

温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

CY7C2670KV18-550BZI

CY7C2670KV18-550BZI

商品型号
CY7C2670KV18-550BZI
商品编号
C2950791
商品封装
FBGA-165(15x17)​
包装方式
托盘
商品毛重
1克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录静态随机存取存储器(SRAM)
接口类型并口(Parallel)
存储容量144Mbit
工作电压1.7V~1.9V
读写时间-
属性参数值
工作温度-40℃~+85℃
工作电流1.14A
待机电流500mA
功能特性自动掉电功能;边界扫描(JTAG)功能;内置延迟锁定环

商品概述

CY7C2670KV18是一款配备DDR II+架构的1.8V同步流水线SRAM。DDR II+由一个SRAM内核和先进的同步外围电路组成。读写的地址在输入时钟K的交替上升沿锁存。写数据在K和K的上升沿寄存。读数据在K和K的上升沿驱动。每个地址位置对应两个36位字,这些字顺序突发进出器件。 这些器件具有片上终端特性,支持D[x:0]、BWS[x:0]和K/K输入,有助于消除外部终端电阻、降低成本、减少板面积并简化布线。 异步输入包括一个输出阻抗匹配输入ZQ。同步数据输出Q与两个输出回波时钟CQ/CQ紧密匹配,消除了在系统设计中单独从每个DDR SRAM捕获数据的需求。 所有同步输入通过由K或K输入时钟控制的输入寄存器。所有数据输出通过由K或K输入时钟控制的输出寄存器。写操作由片内同步自定时写电路执行。

商品特性

  • 144兆位密度
  • 550兆赫时钟
  • 双字突发以降低地址总线频率
  • 双倍数据率接口
  • 可用延迟周期为2.5
  • 两个输入时钟用于精确的DDR时序
  • SRAM仅使用上升沿
  • 回波时钟简化高速系统中的数据捕获
  • 数据有效引脚指示输出上的有效数据
  • 片上终端特性
  • 支持D[x:0]、BWS[x:0]和K/K输入
  • 同步内部自定时写操作
  • 当DOFF置高时,DDR II+以2.5周期读延迟运行
  • 当DOFF置低时,运行类似于具有1周期读延迟的DDR I器件
  • 内核VDD = 1.8 V ± 0.1 V;输入/输出VDDQ = 1.4 V 至 VDD
  • 支持1.5 V和1.8 V输入/输出电源
  • 高速收发器逻辑输入和可变驱动高速收发器逻辑输出缓冲器
  • 采用165球细间距球栅阵列封装
  • 提供无铅封装选项
  • 兼容测试访问端口
  • 锁相环用于精确的数据放置

数据手册PDF