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NT5CC512M8EN-EK引脚图
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温馨提醒:图片仅供参考,商品以实物为准

NT5CC512M8EN-EK

DDR3 4Gb SDRAM

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描述
4Gb双数据速率3(DDR3(L))DRAM是一种高速CMOS SDRAM,包含4,294,967,296位。它在内部配置为八存储体DRAM。4Gb芯片组织为64Mb x 8 I/O x 8存储体和32Mbit x 16 I/O x 8存储体。这些同步设备在一般应用中可实现高达2133 Mb/sec/pin的高速双数据速率传输。该芯片设计符合所有关键的DDR3(L) DRAM关键特性,所有控制和地址输入都与一对外部提供的差分时钟同步。输入在差分时钟的交叉点(CK上升和CK下降)锁存。所有I/O以源同步方式与单端DQS或差分DQS对同步。
商品型号
NT5CC512M8EN-EK
商品编号
C2841152
商品封装
VFBGA-78(8x10.5)​
包装方式
编带
商品毛重
0.43克(g)

商品参数

属性参数值
商品目录同步动态随机存取内存(SDRAM)
存储容量4Gbit
时钟频率(fc)933MHz
属性参数值
功能特性自动预充电;自动刷新
工作温度0℃~+95℃

商品概述

4Gb双倍数据速率第三代(DDR3(L))动态随机存取存储器是一种高速CMOS同步动态随机存取存储器,包含4,294,967,296个存储位。其内部配置为八组存储体结构。该4Gb芯片的组织形式为64M位 × 8位输入/输出 × 8组存储体或32M位 × 16位输入/输出 × 8组存储体。这些同步器件可实现高达2133 Mb/秒/引脚的高速双倍数据速率传输速率,适用于通用应用。该芯片设计符合所有关键的DDR3(L)动态随机存取存储器特性,所有控制和地址输入均与一对外部提供的差分时钟同步。输入信号在差分时钟的交叉点(CK上升沿和CK(上划线)下降沿)被锁存。所有输入/输出均以源同步方式与单端数据选通或差分数据选通对同步。这些器件采用1.5V ± 0.075V或1.35V -0.067V / +0.1V单电源供电,并提供球栅阵列封装。

商品特性

  • 符合DDR3基本规范
  • 8n预取架构
  • 差分时钟(CK/CK(上划线))和数据选通(DQS/DQS(上划线))
  • 数据输入/输出、数据选通和数据掩码上的双倍数据速率
  • 通过动态随机存取存储器内置温度传感器实现自动自刷新
  • 自动刷新和自刷新模式
  • 掉电模式
  • 可配置驱动强度以提升系统兼容性
  • 可配置片内终端电阻
  • 通过外部ZQ焊盘(240欧姆 ± 1%)进行驱动强度/片内终端电阻阻抗精度的ZQ校准
  • 通过模式寄存器设置实现写入均衡
  • 通过多用途寄存器实现读取均衡
  • 对于DDR3:采用SSTL_15接口和电源,VDD/VDDQ = 1.5V(±0.075V)
  • 对于DDR3L:采用SSTL_135接口和电源,VDD/VDDQ = 1.35V(-0.067V / +0.1V)
  • 速度等级(列地址选通潜伏期-行地址到列地址延迟-行预充电时间):2133 Mbps / 14-14-14;1866 Mbps / 13-13-13;1600 Mbps / 11-11-11
  • 温度范围(Tc):商用级 = 0°C ~ 95°C;准工业级(-T) = -40°C ~ 95°C;工业级(-I) = -40°C ~ 95°C
  • 可编程功能:列地址选通潜伏期(6/7/8/9/10/11/13/14);列地址选通写入潜伏期(5/6/7/8/9/10);附加潜伏期(0/列地址选通潜伏期-1/列地址选通潜伏期-2);写入恢复时间(5/6/7/8/10/12/14/16);突发类型(顺序/交错);突发长度(BL8/BC4/BC4或BL8动态切换);自刷新温度范围(常规/扩展);输出驱动器阻抗(34/40);标称片内终端电阻值(20/30/40/60/120);写入片内终端电阻值(60/120);预充电掉电模式(慢/快)
  • 封装/密度信息:符合无铅RoHS标准且无卤素

数据手册PDF