NT5AD512M16C4-JR
DDR4 8Gb SDRAM
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- 描述
- 特性:基于DDR4标准。 8n预取架构。 差分时钟(CK/CK)和数据选通(DQS/DQS)。 DQS、DQS和DM上的双倍数据速率-DRAM访问带宽。 按存储体组分开的I/O门控结构。 自刷新中止
- 品牌名称
- Nanya(南亚科技)
- 商品型号
- NT5AD512M16C4-JR
- 商品编号
- C24169788
- 商品封装
- TFBGA-96
- 包装方式
- 袋装
- 商品毛重
- 0.293939克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | DDR SDRAM | |
| 存储器构架(格式) | DDR4 SDRAM | |
| 时钟频率(fc) | 1.6GHz | |
| 存储容量 | 8Gbit | |
| 工作电压 | 1.2V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 工作电流 | - | |
| 刷新电流 | - | |
| 工作温度 | 0℃~+95℃ | |
| 功能特性 | 写入均衡功能;自动自刷新;CRC功能;内置温度传感器;自动预充电功能;ZQ校准功能;异步复位功能;动态片上端接;数据掩码功能 |
商品特性
- 符合DDR4标准基础规范
- 8n预取架构
- 差分时钟(CK/CK)与数据选通(DQS/DQS)
- 数据线、数据选通和数据掩码采用双倍数据速率
- 按存储体组分离的输入/输出门控结构
- 自刷新中止
- 精细粒度刷新
- 通过模式寄存器设置实现写入电平校准
- 通过多用途寄存器实现读取电平校准
- 命令/地址奇偶校验
- 数据总线写入循环冗余校验
- 多用途寄存器读出
- 边界扫描(X16位宽)
- 封装后修复
- 通过内存内置温度传感器实现自动自刷新
- 自动刷新与自刷新模式
- 内部数据参考电压训练
- 读取前导码训练
- 降速模式
- 每内存可寻址性
- 可配置驱动强度以提升系统兼容性
- 可配置片内终端电阻
- 数据总线翻转
- 通过外部ZQ焊盘(240 Ω ± 1%)进行ZQ校准,以确保驱动强度/片内终端电阻阻抗精度
- 采用点对点端接的伪开漏接口
- 命令/地址延迟
- 最大省电模式
- 低功耗自动自刷新
- 可编程输出驱动器阻抗(34/48)
- 可编程列地址选通写入延迟(9/10/11/12/14/16/18/20)
- 可编程附加延迟(0/CL-1/CL-2)
- 可编程片选至命令地址延迟(3/4/5/6/8)
- 可编程命令地址奇偶校验延迟(4/5/6)
- 可编程写入恢复时间(10/12/14/16/18/20/24)
- 可编程突发类型(顺序/交错)
- 可编程停车终端电阻(34/40/48/60/80/120/240)
- 可编程标称终端电阻(34/40/48/60/80/120/240)
- 可编程写入终端电阻(80/120/240)
- 可编程读取前导码(1T/2T)
- 可编程写入前导码(1T/2T)
- 可编程突发长度(BL8/BC4/BC4或BL8动态切换)
- 可编程低功耗自动自刷新(手动:正常/缩减/扩展;自动:温度传感器控制)
- 速度等级(CL-TRCD-TRP):2666 Mbps / 19-19-19;3200 Mbps / 22-22-22
- 工作温度范围(Tc):商业级:0°C ~ 95°C;工业级(-1):-40°C ~ 95°C;准工业级(-T):-40°C ~ 95°C;宽温工业级(-U):-40°C ~ 105°C
- 符合无铅RoHS标准且无卤素
- 未使用TSCA中的5种持久性、生物累积性和毒性物质
- 电源电压:VDD/VDDQ/VPP = 1.2V / 1.2V / 2.5V
- 当工作温度高于95°C时,交流/直流参数将降额

