商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 监控和复位芯片 | |
| 输出类型 | 开漏 | |
| 复位有效电平 | 低电平有效 | |
| 阈值电压 | 2.7V |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 受监控电压数 | 1 | |
| 复位超时 | 80us | |
| 工作温度 | -40℃~+105℃ |
商品概述
R3117x系列是基于CMOS的电压检测器IC,具有高检测阈值精度和超低电源电流,可在极低电压下工作,例如用于系统复位。 每个IC由电压基准单元、比较器、用于设置检测阈值的电阻、输出驱动器和迟滞电路组成。检测阈值在内部高精度固定,无需任何调整。 检测阈值的容差为±15mV(-V_DET ≤ 1.5V)或±1.0%(1.5V < -V_DET)。由于检测引脚与IC的VDD引脚分离,因此,即使检测引脚电压变为0V,输出电压仍保持“L”电平。 有两种输出类型可供选择:N沟道开漏型和CMOS型。 有三种封装类型可供选择:SOT - 23 - 5、SC - 88A和DFN(PL)1010 - 4。
商品特性
- 电源电流:典型值0.29μA(V_DD = 6.0V)(不包括通过SENSE引脚的消耗电流)
- 工作电压范围:1.0V至6.0V(-40°C ≤ Topt ≤ 105°C)
- 检测阈值范围:0.7V至5.0V(以0.1V为步进)
- 检测阈值精度:±1.0%(-V_DET ≥ 1.6V),±15mV(-V_DET < 1.6V)
- 检测阈值的温度漂移系数:典型值±30ppm/°C
- 输出类型:N沟道开漏型和CMOS型
- 封装:DFN(PL)1010 - 4、SC - 88A、SOT - 23 - 5
应用领域
- CPU和逻辑电路复位
- 电池检测器
- 窗口比较器
- 波形整形电路
- 电池备份电路
- 电源故障检测器
- R3112N361A-TR-FE
- R3112N351C-TR-FE
- R3118N211A-TR-FE
- R3112N351A-TR-FE
- R3118Q272A-TR-FE
- R3118Q222A-TR-FE
- R3112N271C-TR-FE
- R3118Q252A-TR-FE
- R3118Q162C-TR-FE
- R3112N311C-TR-FE
- R3118Q132A-TR-FE
- R3111H421A-T1-FE
- R3111H421C-T1-FE
- R3130N30EA8-TR-FE
- R3130N30BA8-TR-FE
- R3130N29EA3-TR-FE
- R3130N30AA8-TR-FE
- R3111Q541A-TR-FE
- R3130N28EA-TR-FE
- R3130N46AA5-TR-FE
- R3130N29AA3-TR-FE
- R3112N361A-TR-FE
- R3112N351C-TR-FE
- R3118N211A-TR-FE
- R3112N351A-TR-FE
- XC6122A426MR-G
- XC6124A636MR-G
- XC6121C626MR-G
- XC6123E621MR-G
- XC6123D621MR-G
- XC6122D722MR-G
- XD6130A351MR-Q
- XC6123D617ER-G
- XC6123E421MR-G
- XC6123D721MR-G
- XC6121C526MR-G
- XD6130A331MR-Q
- XC6122E721MR-G
- XD6130A401MR-Q
- XC6123D521MR-G
- XC6121D616ER-G
- XC6123E521MR-G
