29C60APC

AM29C60A错误检测与纠正单元（EDC）包含根据修改后的汉明码在16位数据字段上生成校验位的必要逻辑，并在提供校验位时纠正数据字。对从内存读取的数据进行操作时，AM29C60A可纠正任何单比特错误，并检测所有双比特和部分三比特错误。对于16位字，使用6个校验位。AM29C60A可扩展为处理32位字（7个校验位）和64位字（8个校验位）。在所有配置中，该设备会在单独的输出端提供错误校验子用于数据记录。此外，AM29C60A还具有两种诊断模式，可将诊断数据强制输入芯片的部分区域，以简化设备测试并执行系统诊断功能。

• 提高内存可靠性。可纠正所有单比特错误，检测所有双比特和部分三比特错误，使动态RAM系统的可靠性提高六十多倍。
• 高速、低功耗。非常适合MOS微处理器、小型计算机、大型机系统和工程工作站。高性能系统可在仅校验模式下使用AM29C60 EDC，以避免内存系统变慢。
• 处理8位至64位的数据字。AM29C60A EDC可级联：8位或16位使用一个EDC，32位使用两个，64位使用四个。
• 易于字节操作。数据输出锁存器上的独立字节使能功能简化了步骤，并减少了字节写入所需的时间。
• 内置诊断功能。处理器可在软件控制下完全测试EDC，以检查其是否正常运行。
• 与双极型Am2960系列兼容。

• MOS微处理器
• 小型计算机
• 大型机系统
• 工程工作站