ADATE324KBCZ

ADATE324是一款完整的单芯片四通道自动测试设备(ATE)解决方案，执行驱动器、比较器和有源负载(DCL)的引脚电子(PE)功能。该器件还具有每芯片高电压(VHH)驱动能力，以支持闪存测试应用。专用16位数字-模拟转换器(DAC)与片上校准寄存器提供设备运行所需的所有直流电平。

电压驱动器具有三种活动状态：高、低和终止模式，以及一个高阻抗抑制状态。当驱动器不主动终止线路时，抑制状态与集成动态钳位结合使用可显著衰减传输线反射。开路驱动能力为-1.5 V至+4.5 V，以适应标准范围内的ATE和仪器应用。

ADATE324可用作四通道单端引脚电子通道或双差分通道。除了每个通道的高速窗口比较器外，ADATE324还为差分ATE应用提供了两个可编程阈值差分比较器。

所有DCL功能所需的直流电平由专用的片上16位DAC生成。为了实现精确的编程电平，ADATE324还包括一个集成校准功能，用于校正每个功能块的增益和偏移误差。校正系数可以存储在芯片上，并且写入DAC的任何值都会自动使用适当的校正因子进行调整。

ADATE324使用串行可编程接口(SPI)总线来编程所有功能块、DAC和片上校准常数。该器件还具有片上温度传感器以及过压和欠压故障钳位，用于监控和报告器件温度及操作过程中可能出现的任何输出引脚电压故障。

• 可选数据速率最高可达1.6 GHz或最大切换速率为3.2 Gbps
• DCL禁用模式（通常漏电流<10 nA）
• 可编程的功率和速度（驱动器和比较器激活）
• 每通道低速时耗散功率为1.025 W（情况A）
• 每通道高速时耗散功率为1.125 W（情况B）
• 电压驱动器
• 带有高阻态和反射箝位的3电平驱动器
• 电压范围：-1.5 V至+4.5 V（+5 V扩展范围）
• 精密调整输出电阻
• 功能幅度（VIH – VIL）：最小0.05 V至最大6.0 V
• 最小脉冲宽度为312.5 ps（1.0 V设定摆幅）
• 确定性抖动26 ps，随机抖动1.4 ps
• 比较器
• 差分和单端窗口模式
• 输入电压范围：-1.5 V至+4.5 V（+5 V扩展范围）
• 正常窗口比较器ERT/EFT为130 ps（1.0 V，端接）
• 有效负载：±12 mA电流范围
• VHH驱动
• 专用VHH输出引脚
• 电压范围：0.0 V至13.5 V
• 直流电平
• 完全集成且专用的16位DAC
• 带有自动加法和乘法功能的片上增益和偏移校准寄存器
• 封装：9 mm x 9 mm，121球芯片级封装球栅阵列[CSP_BGA]

• 自动测试设备（ATE）
• 半导体和电路板测试系统
• 仪器和特性分析设备