SN74LVTH18646APMG4

LVTH18646A 和 LVTH182646A 扫描测试设备带有 18 位总线收发器和寄存器，是德州仪器（TI）SCOPE 可测试性集成电路系列的成员。该系列设备支持 IEEE Std 1149.1 - 1990 边界扫描，以方便测试复杂的电路板组件。通过 4 线测试访问端口（TAP）接口可实现对测试电路的扫描访问。

此外，这些设备专门为低电压（3.3 V）VCC 操作而设计，但具备为 5 V 系统环境提供 TTL 接口的能力。

在正常模式下，这些设备是 18 位总线收发器和寄存器，允许直接从输入总线或内部寄存器进行数据的多路传输。它们既可以用作两个 9 位收发器，也可以用作一个 18 位收发器。测试电路可由 TAP 激活，以获取设备引脚处数据的快照样本，或对边界测试单元进行自检。在正常模式下激活 TAP 不会影响 SCOPE 总线收发器和寄存器的功能操作。

收发器功能由输出使能（OE）和方向（DIR）输入控制。当 OE 为低电平时，收发器处于活动状态，当 DIR 为高电平时，收发器以 A 到 B 的方向工作；当 DIR 为低电平时，收发器以 B 到 A 的方向工作。当 OE 为高电平时，A 和 B 输出均处于高阻抗状态，有效地隔离了两条总线。

数据流由时钟（CLKAB 和 CLKBA）和选择（SAB 和 SBA）输入控制。A 总线上的数据在 CLKAB 的低到高转换时被时钟输入到相关寄存器中。当 SAB 为低电平时，选择实时 A 数据呈现给 B 总线（透明模式）。当 SAB 为高电平时，选择存储的 A 数据呈现给 B 总线（寄存器模式）。CLKBA 和 SBA 输入的功能分别与 CLKAB 和 SAB 类似。

在测试模式下，SCOPE 总线收发器和寄存器的正常操作被禁止，测试电路被启用，以观察和控制设备的 I/O 边界。启用后，测试电路根据 IEEE Std 1149.1 - 1990 中描述的协议执行边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。此外，测试电路还执行其他测试功能，如对数据输入进行并行特征分析（PSA）和从数据输出进行伪随机模式生成（PRPG）。所有测试和扫描操作都与 TAP 接口同步。

提供了有源总线保持电路，以将未使用或浮空的数据输入保持在有效的逻辑电平。

LVTH182646A 的 B 端口输出设计为可提供或吸收高达 12 mA 的电流，其中包括等效的 25 Ω 串联电阻，以减少过冲和下冲。

SN54LVT18646 和 SN54LVTH182646A 的工作温度范围为 -55°C ~ 125°C。SN74LVTH18646A 和 SN74LVTH182646A 的工作温度范围为 -40°C ~ 85°C。

• 德州仪器 SCOPETM 可测试性产品系列成员
• 德州仪器 WidebusTM 系列成员
• 先进的 3.3 - V ABT 设计支持混合模式信号操作（5 - V 输入和输出电压，3.3 - V VCC）
• 支持低至 2.7 V 的非稳压电池操作
• 包含 D 型触发器和控制电路，以提供存储和实时数据的多路传输
• 数据输入上的总线保持功能消除了对外部上拉/下拉电阻的需求
• LVTH182646A 器件的 B 端口输出具有等效的 25 Ω 串联电阻，因此无需外部电阻
• 与 IEEE Std 1149.1 - 1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构兼容
• SCOPE 指令集：
  • IEEE Std 1149.1 - 1990 所需指令以及可选的 CLAMP 和 HIGHZ
  • 输入处的并行特征分析
  • 输出的伪随机模式生成
  • 采样输入/切换输出
  • 输出的二进制计数
  • 设备识别
  • 偶校验操作码
• 采用 64 引脚塑料薄四方扁平（PM）封装，中心间距为 0.5 mm；以及 68 引脚陶瓷四方扁平（HV）封装，中心间距为 25 密耳