SPC570S50E3CEFAY
SPC570S50E3CEFAY
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- 品牌名称
- ST(意法半导体)
- 商品型号
- SPC570S50E3CEFAY
- 商品编号
- C1342955
- 商品封装
- TQFP-100-EP(14x14)
- 包装方式
- 托盘
- 商品毛重
- 0.001克(g)
商品参数
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| 商品目录 | 单片机(MCU/MPU/SOC) | |
| CPU内核 | 飞思卡尔系列 | |
| CPU最大主频 | 80MHz | |
| CPU位数 | 32 Bit | |
| 程序存储容量 | 512KB | |
| 程序存储器类型 | FLASH |
| 属性 | 参数值 | |
|---|---|---|
| RAM容量 | 48KB | |
| EEPROM容量 | 32KB | |
| ADC(位数) | 12bit | |
| 振荡器类型 | 外置 | |
| 工作电压 | 3V~5.5V | |
| 工作温度 | -40℃~+125℃@(TJ) |
商品特性
- AEC-Q100认证
- 高性能e200z0h双核 - 32位Power Architecture技术
- CPU核心频率高达80 MHz
- 单发射4级顺序执行流水线
- 可变长度编码(VLE)
- 最高544 KB(512 KB代码 + 32 KB数据,适用于EEPROM仿真)片上闪存:支持在编程和擦除操作期间读取,并且多块存储允许EEPROM仿真
- 最高48 KB片上通用SRAM
- 多通道直接内存访问控制器(eDMA配对锁步)具有16个通道
- 全面的新一代ASILD安全概念
- 通过延迟锁步方法保证总线主控(核心 + INTC, DMA)的安全
- 通过主要ECC保证存储(Flash, SRAM)的安全
- 通过主要端到端EDC(E2E EDC)保证到存储和外设的数据路径安全
- 时钟和电源的生成与分配由专用监视器监控
- 故障收集和控制单元(FCCU)用于收集和响应故障通知
- 存储错误管理单元(MEMU)用于收集和报告存储中的错误事件
- 启动时MBIST和LBIST用于检测潜在故障
- 通过专用机制检查安全机制的可用性和错误反应路径的功能
- 通过应用级措施(如复制的外设桥接和LBIST)保证外设的安全
- 专门外设上的进一步措施(例如ADC监控器)
- 结温传感器
- 支持进程ID的8区域系统存储保护单元(SMPU)(任务隔离)
- 增强型软件看门狗
- 循环冗余校验(CRC)单元
- 双相位锁定环路,为外设提供稳定的时钟域,为计算壳体提供FM调制域
- Nexus Class 3调试和跟踪接口
- 通信接口
- 2个LINFlexD模块
- 3个解串行外围接口(DSPI)模块
- 最多2个FlexCAN接口,每个接口有32个消息缓冲区
- 片上CAN/UART引导加载程序,带有Boot Assisted Flash (BAF)
- 物理接口(PHY)可以是UART和CAN
- 2个增强型12位SAR模拟转换器
- 转换时间1.5 μs(12 MHz)
- 16个物理通道(两个SARADC单元完全共享)
- 监督ADC概念
- 可编程交叉触发单元(CTU)
- 单3.3 V或5 V电压供电
- 4个通用eTimer单元(每个6个通道)
- 结温范围-40 ℃至150 ℃(可选165 ℃等级)
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